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T450專精性能膜厚儀匠心打造的細膩品質，采用微聚焦增強型射線管和數字多道脈沖信號處理技術，同時搭載增強FP算法軟件與變焦裝置，在檢測各大小平面、異形件、多層合金及電鍍液時更加精準、穩定、高效。
T450專精性能膜厚儀微米級移動精度
變焦對焦一體技術無需標樣一鍵測試
大面積Si-pin半導體探測器
微聚焦高集成垂直光路交換裝置
微米級移動精度：高精密移動平臺，對多點檢測時快速精準定位。
微聚焦高集成垂直光路交換裝置：前沿的光路聚焦系統設計，實現對極小測量點高效、精準、穩定檢測。
變焦對焦一體技術：可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍可達35mm。
